LCR測(cè)試儀能準(zhǔn)確并穩(wěn)定地測(cè)定各種各樣的元件參數(shù)，主要是用來測(cè)試電感效率和安、電容就能壓製、電阻的測(cè)試儀。它具有功能直接產能提升、操作簡(jiǎn)便等特點(diǎn)發揮，能以較低的預(yù)算來滿足生產(chǎn)線質(zhì)量保證、進(jìn)貨檢驗(yàn)適應能力、電子維修業(yè)對(duì)器件的測(cè)試要求設施。
 

　　LCR測(cè)試儀主要的功能是對(duì)各種電子產(chǎn)品的阻抗來進(jìn)行測(cè)量，然后還可以對(duì)電子元器件的傳輸性能來進(jìn)行測(cè)量快速增長。實(shí)際在進(jìn)行測(cè)量的時(shí)候要求，這個(gè)測(cè)量設(shè)備上面會(huì)有很多的標(biāo)準(zhǔn)接口，那么根據(jù)被測(cè)量的電子元器件的情況選擇相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)接口，然后就可以自動(dòng)化的進(jìn)行測(cè)量開放以來，這個(gè)測(cè)量的響應(yīng)時(shí)間非车刃问?？欤俣纫彩窍喈?dāng)快的組合運用，然后誤差非常的小的特點。
 

　　LCR測(cè)試儀一般用于測(cè)試電感和電容。測(cè)量步驟如下：
 

　　1基礎、設(shè)置測(cè)試頻率領域；
 

　　2、測(cè)試電壓或者電流水平要素配置改革；
 

　　3、選擇測(cè)試參數(shù)，比如Z設計標準、Q深度、LS(串聯(lián)電感)、LP(并聯(lián)電感)經過、CS(串聯(lián)電容)帶來全新智能、CP(并聯(lián)電容)、D等核心技術體系；
 

　　4自主研發、儀器校準(zhǔn)，校準(zhǔn)主要進(jìn)行開路新產品、短路校準(zhǔn)意向，高檔的儀器要進(jìn)行負(fù)載校準(zhǔn)；
 

　　5更加廣闊、選擇測(cè)試夾具系統性；
 

　　6、夾具補(bǔ)償；
 

　　7損耗、將DUT放在夾具上開始測(cè)試。
 

　　使用這種LCR測(cè)試儀來進(jìn)行測(cè)量的確是能夠很好的去提高測(cè)量的效率長遠所需，以前采用的是反射測(cè)量技術(shù)形式，但是這種測(cè)量技術(shù)在進(jìn)行測(cè)量的時(shí)候，速度會(huì)相對(duì)比較慢一些非常完善，然后測(cè)量的精確度會(huì)相對(duì)比較差一些傳遞，不過現(xiàn)在使用了這種新的測(cè)量設(shè)備之后，情況就已經(jīng)發(fā)生了明顯的變化。這種新的測(cè)量設(shè)備能夠非嘲l揮效力？焖俚捻憫?yīng)全面革新，能夠及時(shí)的測(cè)量，使得平均的測(cè)量過程耗費(fèi)的時(shí)間大大的減少結構。