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日置 LCR測(cè)試儀

簡(jiǎn)要描述:

LCR測(cè)試儀IM3536
測(cè)量頻率DC製度保障,4 Hz?8 MHz的LCR測(cè)試儀
測(cè)量頻率DC,4Hz~8MHz 測(cè)量時(shí)間:最快1ms 基本精度:±0.05% rdg 1mΩ以上的精度保證各領域,可測(cè)量低阻 可內(nèi)部發(fā)生DC偏壓測(cè)量

型號(hào):IM3536

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更新日期:2024-11-04

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日置 LCR測(cè)試儀
品牌HIOKI/日本日置應(yīng)用領(lǐng)域綜合

LCR測(cè)試儀IM3536

測(cè)量頻率DC,4 Hz?8 MHz的LCR測(cè)試儀


產(chǎn)品概要

測(cè)量頻率DC模樣,4Hz~8MHz
● 測(cè)量時(shí)間:最快1ms
● 基本精度:±0.05% rdg
● 1mΩ以上的精度保證范圍取得顯著成效,也可安心進(jìn)行低阻測(cè)量
● 可內(nèi)部發(fā)生DC偏壓測(cè)量
● 從研發(fā)到生產(chǎn)線活躍在各種領(lǐng)域中


產(chǎn)品概要

測(cè)量頻率DC,4Hz~8MHz
● 測(cè)量時(shí)間:最快1ms
● 基本精度:±0.05% rdg
● 1mΩ以上的精度保證范圍數據顯示,也可安心進(jìn)行低阻測(cè)量
● 可內(nèi)部發(fā)生DC偏壓測(cè)量
● 從研發(fā)到生產(chǎn)線活躍在各種領(lǐng)域中


產(chǎn)品概要

測(cè)量頻率DC責任,4Hz~8MHz
● 測(cè)量時(shí)間:最快1ms
● 基本精度:±0.05% rdg
● 1mΩ以上的精度保證范圍,也可安心進(jìn)行低阻測(cè)量
● 可內(nèi)部發(fā)生DC偏壓測(cè)量
● 從研發(fā)到生產(chǎn)線活躍在各種領(lǐng)域中


產(chǎn)品規(guī)格

日置 LCR測(cè)試儀

日置 LCR測(cè)試儀

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